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microscopia eletrônica de varredura

/mi.kɾos.ko.ˈpi.ɐ e.le.ˈtɾo.ni.kɐ dʒi va.he.ˈdu.ɾɐ/locução nominal

Técnica que varre a superfície de uma amostra com um feixe de elétrons e forma imagens ampliadas de sua topografia e composição, com resolução bem superior à da microscopia óptica.

Onde usar

Aparece em materiais, metalurgia, geologia e eletrônica, para examinar fraturas, partículas e revestimentos; com um detector EDS acoplado, também revela os elementos da região observada. A sigla é MEV.

Exemplos

A micrografia de MEV mostrou grãos esféricos de cerca de 200 nm na superfície do catalisador.

As amostras isolantes são recobertas com uma fina camada de ouro para não acumularem carga no MEV.

Cuidado

Não confundir com a microscopia eletrônica de transmissão, em que o feixe atravessa uma amostra muito fina; no MEV a imagem vem de elétrons emitidos pela superfície.

Sinônimos

MEV

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